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三星成功研制全球首个10 纳米以下DRAM工程样片 2028 年量产

分类:产品 | 时间:2026-4-28 12:23 | 阅读:6

摘要: 据韩国媒体报道,三星电子已成功制造出全球首款制程低于10纳米的“个位数纳米”DRAM工程样片,这标志着内存产业正式突破了长期以来的物理极限。韩国媒体《The Elec》报道指出,长期以来,DRAM产业的微缩技术主要依赖 ...
据韩国媒体报道,三星电子已成功制造出全球首款制程低于10纳米的“个位数纳米”DRAM工程样片,这标志着内存产业正式突破了长期以来的物理极限。

韩国媒体《The Elec》报道指出,长期以来,DRAM产业的微缩技术主要依赖10纳米级制程(世代涵盖1x、1y、1z、1a、1b、1c至1d)。如今,三星正全力开发全新的“10a”制程技术。市场分析认为,10a制程将把线宽进一步缩小至9.5至9.7纳米之间,成为业界首个跨入个位数纳米等级的亚10纳米(sub-10nm)制程技术。日前,三星通过10a制程生产晶圆后,在检测样片特性时成功确认了工程样片的诞生,目前正计划通过调整制程条件,快速提升并确保产品良率。

报道称,这项革命性突破的两大核心技术,在于首次应用了“4F平方单元结构(4F Square Cell Structure)”以及“垂直通道晶体管(VCT,Vertical Channel Transistor)”工艺。当前市面上的DRAM产品普遍采用6F结构(即3Fx2F的长方形区块),而全新的4F结构则改为更紧凑的方形设计(2Fx2F)。仅通过这一结构改进,就能将每个集成电路的单元密度大幅提升30%至50%,不仅能提供更大的存储容量,还能有效降低功耗。其中,4F平方单元结构的核心是将每个存储单元置于2F×2F的面积内,相比传统结构实现了更高的存储密度,是DRAM高密度微缩的关键技术支撑;垂直通道晶体管则通过将晶体管通道方向由水平改为垂直,缩短单元间距,为4F平方结构的实现奠定了基础。

此外,新款DRAM在材料应用上也实现了革新,舍弃了以往产品使用的硅,转而采用铟镓锌氧化物(IGZO)等新型材料。铟镓锌氧化物具有极低的漏电流和极高的电子迁移率,由于新世代内存单元更为狭窄,导入IGZO材料能有效减少漏电问题,确保数据的良好保存性,同时还能降低功耗、提升器件可靠性。

根据三星的发展规划,搭载这些新技术的10a DRAM预计将于2026年完成开发,量产时间定于2028年。4F新结构将在10a世代率先应用,并在未来的10b与10c世代中持续优化。而后续的“10d”世代DRAM,预计将全面迈入“3D DRAM”技术领域,计划于2029至2030年间推出。3D DRAM通过堆叠多个DRAM芯片层实现垂直集成,能显著提升存储密度和带宽,同时缩短信号传输路径、降低延迟,适用于高性能计算、数据中心等场景。

在市场竞争格局方面,三星的竞争对手美光(Micron)目前已暂停其4F相关计划,决定直接等待未来的3D DRAM技术。与此同时,缺乏先进光刻设备的中国厂商,在3D DRAM生产方面将面临不小的挑战。不过,由于3D DRAM的设计与3D NAND可能存在相似之处,这为中国厂商提升制程水平保留了一线机会。
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