搜索
 找回密码
 立即注册

简单一步 , 微信登陆

DDR3 ZQ校准功能介绍

作者:huhaiqiang | 时间:2016-9-28 17:31:27 | 阅读:8550| 只看该作者 只看大图
本帖最后由 huhaiqiang 于 2016-9-28 17:31 编辑

ZQ校准是DDR3新增的一功能,为了提高信号完整性,并增强输出信号强度,DDR内存中引入了终端电阻和输出驱动器。而为了在温度和电压发生变化的情况下仍能保持信号完整性,就需要对这些终端电阻和输出驱动器进行定期校准。ZQ目的是校准。用于动态调整DDR3的Ron及ODT阻值大小。
DDR3 的ZQ引脚须外接一个240R_1%精度的电阻。
这个引脚通过一个命令集,通过片上校准引擎(ODCE,On-Die Calibration Engine)来自动校验数据输出驱动导通电阻Ron与ODT的终结电阻值。当系统发出这一指令之后,将用相应的时钟周期(在加电与初始化之后用512个时钟周期,在退出自刷新操作后用256时钟周期,在其它情况下用64个时钟周期)对导通电阻Ron和ODT电阻进行重新校准。
更多信息可参考附件 DDR3-ZQ-calibration-Nov08.pdf (526.98 KB, 下载次数: 6)




收藏
收藏0
分享
分享
点赞
点赞4
反对
反对0
回复

使用道具 举报

您需要登录后才可以回帖 登录 | 立即注册
手机版